目前光譜儀的掃描儀器已經(jīng)在工業(yè)應(yīng)用上非常普遍，有著性能佳，效率高，不傷物體等優(yōu)良的特性。在光譜儀的使用中對峰變化情況尤為重要，但光譜儀掃描時峰有時會呈現(xiàn)奇怪的變化，比如峰形不光滑，有小鋸齒狀、只出現(xiàn)噪聲信號，沒有峰位信號。這兩種情況都是屬于不正常的現(xiàn)象，下面重慶優(yōu)昂機(jī)電針對這兩種情況做簡單地分析。
   首先我們需知道，光譜分析儀器是一種用于測量發(fā)光體的輻射光譜，即發(fā)光體本身的指標(biāo)參數(shù)的儀器。所以在分析儀器中對于內(nèi)部晶體的情況是相當(dāng)重視的。

 一、2θ掃描時，發(fā)現(xiàn)峰形不光滑，有小鋸齒狀。
   在光譜分析儀器內(nèi)部結(jié)構(gòu)中，晶體對于檢測效果具有相當(dāng)重要的地位，但其也是光譜儀分期儀器中最為脆弱的部件。對于晶體有個重要特性——容易受污染，所以不能用手或者其他東西去觸碰晶體，污染晶體會導(dǎo)致晶格間距發(fā)生變化，在X射線熒光的衍射主要發(fā)生在晶體的表面，因此造成2θ掃描的峰形不光滑。而對于處理晶體的方法，有很多相關(guān)的教程，但是都不能夠快速的做到清除，當(dāng)急用時可直接找相關(guān)的技術(shù)人員做替換，所以重慶優(yōu)昂機(jī)電建議對于晶體的維護(hù)應(yīng)該多加注重。
   二、2θ掃描時只出現(xiàn)噪聲信號，沒有峰位信號。
   1.測角儀的θ和2θ耦合關(guān)系發(fā)生混亂，通常是控制θ和2θ耦合關(guān)系的CMOS中的數(shù)據(jù)由于電池漏電等原因丟失，這時需要重新對光。
   2.探測器的前置放大電路出現(xiàn)故障，出現(xiàn)的噪聲信號為電路噪聲，不是X射線信號。
   重慶光譜儀分析儀器廠家擁有獨(dú)立的團(tuán)隊(duì)，不管是理論知識還是相關(guān)操作經(jīng)驗(yàn)都是豐富的，重慶優(yōu)昂機(jī)電廠家就光譜儀有數(shù)款不同的類型，有直讀式光譜儀、便攜式/手持式光譜儀、等離子發(fā)射光譜儀、XRF光譜儀。

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